VJ Electronix 在 NEPCON China 上展出获奖 的Vertex II X 射线检测系统

返修技术领导者、先进 X 射线检测系统全球提供商 VJ Electronix有限公司将在NEPCON South China 2013的 Kasion 展位(1H43)上展出全新的 Vertex II 下一代 X射线技术及高性能 SRT Micra 返修平台。此次展览将于 2013 年 8月 27 日至 29 日在中国深圳会展中心隆重开幕。

VJ Electronix 将重磅展出全新的 Vertex II 130,它是最新的 NPI(新产品导入) 奖得主,融合了 X 光成像组件的最新技术以及离轴观察,同时减小了占地面积。该系统提供 VJE 公认的生产就绪性、一流的正常运行时间以及无可匹敌的价值。Vertex II 可配置各种 X光源和检测器,也可进行定制以满足特定的应用需求。

Vertex II 配备了创新 Nexus 300 检测软件和分析工具,提供手动运行或全自动检测例程。Nexus 300 图像处理提供先进的检测增强、双面 PCB 的功能屏蔽、伪彩色、边缘检测、BGA 区域、圆度、空洞、大区域分析和空洞比率。

此外还将展出 VJE 的最新台式平台 SRT Micra,该平台专门设计用于从 01005 被动元件到大型 POP 元件的设备返修。Micra 是一种通用返修工具,但也设计为最新的高密度电子设计和设备(例如智能手机、平板电脑、GPS 和其他便携式产品)提供高级返修功能。全新的 SierraMate V9 软件简化了工艺定义,并确保工厂之间,甚至大陆之间一致的可重复结果。系统的革命性加热器和机器控制装置提供了极高的吞吐量和无可匹敌的性能,尽管电源等公用设施存在一些典型的差异。

此外,VJ Electronix 返修产品线还包括业内的主力产品 Summit 1800 返工平台,该平台融合了自发明高端半自动表面贴装和微电子返修技术以来开发的所有创新功能。

广泛的现场经验和用户反馈促使各大提供商开始开发超越目前与未来行业需求的返修系统。采用直观的 1-2-3 Go! 操作员界面和自动温度曲线的先进返修软件最大限度地提高了使用方便性和吞吐量,同时保持了返修当今最复杂的区域阵列元件的固有功能。

欲了解详情,欢迎在NEPCON South China 2013上与VJ Electronix 和Kasion团队见面或访问www.vjelectronix.com

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